通過考察高純水設(shè)備的EDI膜堆由非穩(wěn)態(tài)到穩(wěn)態(tài)的過程中濃水電導(dǎo)率的變化規(guī)律以及處于穩(wěn)態(tài)條件下的V—I特性曲線 ,探討EDI過程水解離的基本特征 .研究表明 ,在膜堆內(nèi)部離子一旦發(fā)生定向遷移 ,在樹脂表面水界面層中就會(huì)形成較高的電勢(shì)梯度 ,引起水的解離 ,而且在高電流密度下 ,高純水設(shè)備的淡室中離子交換膜表面水界面層也會(huì)發(fā)生水解離。